【資料名稱】：LTE測試問題解決方案

【資料作者】：XXX

【資料日期】：2011-12-13

【資料語言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡介】：

在LTE模塊和整機的研發(fā)階段,工程師們的關(guān)注點主要集中在以下幾個方面：如何靈活地對LTE射頻和基帶信號進行模擬產(chǎn)生和分析；如何對不同的MIMO 模式進行測試,并驗證其性能；如何在協(xié)議棧開發(fā)的早期進行測試,使之符合一致性的要求；如何在射頻研發(fā)測試的早期進行符合一致性要求的測試等等。R&S針對這些需求提供了相應(yīng)的解決方案。

LTE信號的產(chǎn)生和分析：R&S的信號源,如SMU200A、SMJ100A、SMATE200A以及SMBV,加上K55選件后就可以按照TS36.211標準的規(guī)定實時地產(chǎn)生LTE FDD和LTE TDD的上下行射頻信號,用于元器件性能測試以及基站和移動終端的接收機測試。由于K55內(nèi)置在信號源里,客戶可以極為方便地設(shè)置并產(chǎn)生信號。此外R&S的雙通道基帶信號源及衰落模擬器AMU200A,加上K55選件后就可以產(chǎn)生LTE的基帶信號,用于LTE研發(fā)早期基帶信號的模擬。通過R&S提供的EX-IQ-BOX,用戶可以產(chǎn)生適合自己需要的數(shù)字基帶信號格式。