【資料名稱】：載頻環(huán)測

【資料作者】：111

【資料日期】：2012-9-5

【資料語言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡介】：

ZUBP:TR:BTS=XX,TRX=XX；解釋備注
FAILED REASON: CIRCUIT NOT FREE測試電路被占用在部分站點進行載頻環(huán)測時，BCCH所在載頻有三個時隙不能做為TX信道進行測試，測試時RX信道正好占用了0時隙
FAILED REASON: TEST RADIO CHANNEL CANNOT BE ALLOCATED測試所用信道不能被分配在部分站點進行載頻環(huán)測時，BCCH所在載頻有三個時隙不能做為TX信道進行測試，測試時RX信道正好占用了0時隙

FAILED REASON: TEST REPORT NOT FOUND FROM REPORT HISTORY測試報告無法從歷史報告中找到建議使用BTS Manager對個案個別站點單獨測試


FAILED REASON: BER/FER OUT OF RANGEBER/FER 超出范圍：在載頻環(huán)測過程中檢測到超出正常范圍的高誤碼率>2%。"受基站側影響，出現(xiàn)此問題時，可能有如下原因：
1. RF射頻線纜是否有損傷及老化現(xiàn)象；
2. 是否在環(huán)測過程中是有相同頻點的鄰站；
3. 是否雙工發(fā)射器工作異常；
4. 載頻是否工作正常；
需參考實際話務質量確定失敗原因，如無硬件告警，無同頻鄰站時，可忽略此失敗原因。
"

FAILED REASON: BTS BUSY載頻有時隙占用，不能被測試在無時隙占用下繼續(xù)測試。

FAILED REASON: HARDWARE FAILURE硬件故障，需進一步驗證"如果此站使用RTC或EOCA這2類板件，此環(huán)測結果可接受，在內部電路復雜條件下，載頻環(huán)測過程可能受到干擾，建議使用BTS Manager進一步環(huán)測驗證；
如有載頻硬件告警，請更換故障載頻；
檢查RF射頻連線是否老化，導致連接出點虛連；
"