優(yōu)化案例 9.1、PUSCH BLER高案例 <br /><br />問(wèn)題現(xiàn)狀�� <br /><br />最近在上南路高青路做業(yè)務(wù)測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)PUSCH BLER較高�７謩e對(duì)Cell175進(jìn)行了多次不同<br /><br />狀態(tài)下的測(cè)試�７謩e為由其他小區(qū)切換至Cell175、處于定點(diǎn)狀態(tài)下占用Cell175、處于移動(dòng)<br /><br />狀態(tài)下穩(wěn)定占用Cell175進(jìn)行測(cè)試�Ｔ谶@三種狀態(tài)下��Cell175的PUSCH BLEW均很高�Ｍ瑫r(shí)��<br /><br />在占用Cell175的時(shí)候��UE會(huì)多次出現(xiàn)重建的情況。 <br /><br /> 上南路高青路問(wèn)題路段調(diào)整前測(cè)試情況�� �� 在切換占用上Cell175以后測(cè)試情況截圖 <br /><br /> <br /><br /> <br /><br />�� 在定點(diǎn)狀態(tài)下   <br /><br />�� 處于移動(dòng)狀態(tài)穩(wěn)定占用Cell175 <br /><br />  <br /><br /> 調(diào)整措施��對(duì)Cell175進(jìn)行了Lock&Unlock操作。 <br /><br /> <br /><br />調(diào)整后復(fù)測(cè)情況說(shuō)明�Ｔ趯�(duì)Cell175進(jìn)行了相應(yīng)的調(diào)整以后�⒃谠瓎�(wèn)題路段及進(jìn)行復(fù)測(cè)��復(fù)<br /><br />測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)�Ｔ�先切換至Cell175(Cell177切換至Cell175以及Cell174切換至Cell175)均會(huì) 出現(xiàn)PUSCH BLEW偏高的問(wèn)題已經(jīng)得到了解決。調(diào)整后�Ｔ谇袚Q占用上Cell175的時(shí)候��PUSCH <br /><br />BLEW值維持在10以下�Ｔ�先在Cell175的過(guò)程中會(huì)頻繁重建的問(wèn)題也得到了解決。調(diào)整后<br /><br />復(fù)測(cè)情況如下圖所示��  <br /><br /> <br /><br /> 后續(xù)問(wèn)題�ひ呀�(jīng)抓取了UE側(cè)和eNB側(cè)的相關(guān)Trace��準(zhǔn)備進(jìn)一步分析定位問(wèn)題。 <br /><br />9.2、天饋調(diào)整案例 <br /><br />問(wèn)題現(xiàn)狀�� <br /><br />在上南路永泰路路段附近進(jìn)行業(yè)務(wù)測(cè)試時(shí)��UE在Cell183和Cell181之間切換的過(guò)程中<br /><br />會(huì)出現(xiàn)SNR突降�Ｍ瑫r(shí)檢測(cè)到許多奇怪的Cell ID的情況��導(dǎo)致切換失敗事件頻發(fā)。懷疑是<br /><br />Cell181和Cell183小區(qū)之間的干擾所導(dǎo)致的��準(zhǔn)備對(duì)Site61的天饋進(jìn)行了相應(yīng)的排查和調(diào)整。

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