banner.jpg)
相關(guān)專題：
市場上有關(guān)TD-LTE的試商用已經(jīng)如火如荼地開展起來。伴隨著TD-LTE市場應(yīng)用的不斷發(fā)展，測試需求也在不斷增加，測試儀表和測試系統(tǒng)作為TD-LTE產(chǎn)業(yè)鏈的重要組成部分，對于產(chǎn)品的性能、研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化起到了關(guān)鍵的推動作用，特別是在有關(guān)終端測試的多模功能一體化測試系統(tǒng)、高速數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)仿真測試系統(tǒng)、多網(wǎng)絡(luò)共存條件下的網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化工具等方面，TD-LTE提出了更高、更迫切的需求。測試儀表和系統(tǒng)廠商只有緊跟產(chǎn)業(yè)發(fā)展的腳步，及時開發(fā)出相應(yīng)的產(chǎn)品，才能搶占市場先機(jī)。
商用在即終端測試是重點(diǎn)
終端測試成為整個產(chǎn)業(yè)鏈最困難的部分，大家的眼睛都盯著此類儀器設(shè)備的開發(fā)。
中國即將成為全球TD-LTE最大市場，并建成最大的TD-LTE網(wǎng)絡(luò)。展望未來，TD-LTE有著巨大的發(fā)展空間，測試儀表和測試系統(tǒng)也蘊(yùn)含著巨大的發(fā)展機(jī)遇。盡管商用腳步已經(jīng)臨近，各環(huán)節(jié)中最不讓人放心的仍然是TD-LTE的終端性能。正如中國通信學(xué)會秘書長張新生所說，說到底TD-LTE能不能得到發(fā)展，終端是一個非常關(guān)鍵的因素。在TD-LTE的發(fā)展中，高難度的動作、復(fù)雜性的工作全留給終端了。TD-LTE多模多頻才能滿足需求，并且要在多模多頻的條件下，解決功耗問題。此外，隨著云的發(fā)展，移動互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展，智能手機(jī)既是通信工具，又是上網(wǎng)工具，終端不僅是要關(guān)注硬件平臺，還要關(guān)心操作系統(tǒng)和多種多樣的應(yīng)用，終端芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜性可見一斑。
而中電集團(tuán)41所副總工程師劉祖深則表示，正因?yàn)槿绱�，終端測試便成為整個產(chǎn)業(yè)鏈中非常關(guān)鍵的一部分，所以大家的眼睛都盯著此類儀器設(shè)備的開發(fā)。不過隨著各方投入大量精力，已經(jīng)開發(fā)出多款包括支持TD-LTE在內(nèi)的終端測試方面的儀器儀表。41所也與大唐合作推出了相關(guān)綜測儀產(chǎn)品，41所負(fù)責(zé)射頻部分的開發(fā)。
羅德與施瓦茨公司中國區(qū)業(yè)務(wù)發(fā)展經(jīng)理陳曉宗介紹，對于TD-LTE芯片的研發(fā)以及驗(yàn)證，R&S提供了基于CMW500平臺的協(xié)議研發(fā)驗(yàn)證工具，還可以提供虛擬的協(xié)議測試方案，芯片開發(fā)人員提供了多種API接口，可以自定義不同的測試場景（如MLAPI、LLAPI等），并且有多種連接測試的方案，可以使用數(shù)字基帶接口與基帶芯片直連測試，也可以使用射頻接口連接測試，為芯片的開發(fā)提供便利。
未來終端環(huán)節(jié)的測試重點(diǎn)將圍繞終端上的各種應(yīng)用而展開，確保在終端平臺上運(yùn)行的流暢性。
4G無線寬帶順利發(fā)展的關(guān)鍵在于應(yīng)用。TD-LTE網(wǎng)絡(luò)建成、無線傳輸帶寬的加寬，意味著人們將進(jìn)入真正的移動互聯(lián)網(wǎng)時代，由此帶來的科技和產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新前景是無窮的。中國移動研究院副院長、GTI秘書長黃宇紅介紹：“中國無線城市計(jì)劃將會充分利用TD-LTE，從而推出許多創(chuàng)新的應(yīng)用�！币虼丝梢灶A(yù)見，未來終端環(huán)節(jié)的測試重點(diǎn)將圍繞終端上的各種應(yīng)用而展開，確保在終端平臺上各種應(yīng)用運(yùn)行的流暢性。
